By Ernst Ruska (auth.), W. Bargmann, G. Möllenstedt, H. Niehrs, D. Peters, E. Ruska, C. Wolpers (eds.)

Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses für Elektronenmikro· skopie, der unter den Auspizien der overseas Federation zero/ Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausmaß die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren für viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa four hundred Vorträge und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als one thousand Teilnehmern aus 26 Ländern gehalten, waren zu veröffentlichen, wenn wir der culture der früheren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treu bleiben wollten. Zum ersten Male struggle es nicht möglich, alle auf einem Internationalen Kongreß für Elektronenmikroskopie gehaltenen Vorträge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der 1. Band dieser Verhandlungen enthält sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und über die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der Geräte, als auch Mitteilungen über die Anwendung des Elek· tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein· schließlich der Präparationstechnik. Der eleven. Band bringt die Arbeiten über die Anwendung des Elektronenmikroskops zur Lösung biologischer und medizinischer Fragestellungen und über die entsprechenden Prä parationsverfahren. In Abweichung von der Reihenfolge, in der die Vorträge auf dem Kongreß gehalten wurden, waren wir bemüht, die Mitteilungen nach ihrem Sinnzusammenhang in kleinere Sachgruppen einzuordnen, um ein leichtes und schnelles Auffinden zusammengehöriger Themen zu ermöglichen. Die Inhaltsverzeichnisse, die beiden Bänden beigefügt sind, vermitteln eine ausreichende Über. sicht. Jeder Band enthält ein alphabetisches Mitarbeiterverzeichnis. Die Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, die veranstaltende corporation, begrüßte mit dankbarer Anerkennung, daß der Springer.

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The Chern Symposium 1979: Proceedings of the International Symposium on Differential Geometry in honor of S.-S. Chern, held in Berkeley, California, June 1979

This quantity attests to the energy of differential geometry because it probes deeper into its inner constitution and explores ever widening connections with different matters in arithmetic and physics. To so much folks Professor S. S. Chern is smooth differential geometry, and we, his scholars, are thankful to him for major us to this fertile panorama.

Partially Supervised Learning: Second IAPR International Workshop, PSL 2013, Nanjing, China, May 13-14, 2013, Revised Selected Papers

This publication constitutes the completely refereed revised chosen papers from the second one IAPR foreign Workshop, PSL 2013, held in Nanjing, China, in may possibly 2013. the ten papers integrated during this quantity have been rigorously reviewed and chosen from 26 submissions. in part supervised studying is a quickly evolving zone of laptop studying.

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C. NIXON: The point cathode as an electron source 13 jenige Breite einzusetzen ist, innerhalb deren die Stromdichte auf den e-ten Teil ihres Maximalwertes absinkt, sondern eine geringere Breite, z. B. diejenige, die einer Abnahme auf etwa 75% entspricht. Wir können nicht mit Sicherheit feststellen, welche Erklärung tatsächlich die richtige ist, aber die erste Erklärung scheint uns plausibler zu sein: wegen der großen Aberrationen des Strahlerzeugersystems ist die Größe des kleinsten Strahlquerschnittes sehr wahrscheinlich viel größer als die Größe des geometrisch optischen Bildes der Kathode, die im Falle der Fresnelsäume von überwiegender Bedeutung ist.

Such adeparture is not predieted by the Fowler-Nordheim relationship (2) when spaee charge effeets are negleeted. Spaee charge was eonsidered from a theoretieal viewpoint for a simplified model eonsisting of plane eleetrodes with boundary eonditions appropriate to field emission (7). Values of the eathode eleetrie field were obtained from a solution of POISSON'S equation; this resulted in a generalization of CHILD'S equation whieh is asymptotie to it when the applied potential is large eompared with the value required for appreeiable field emission.

Die Vorzüge einer derartigen Vereinfachung der Massenspektren für analytische Zwecke liegen auf der Hand. Die Apparatur. Die erste Feldemissionsionenquelle für ein Massenspektrometer wurde von INGHRAM (1) und GOMER angefertigt!. MÜLLER (2) hat innerhalb eines modifizierten Feldionenmikroskopes eine magnetische Gaseln/aß Strahlablenkung vorgenommen, so daß er die Massenverteilung der Ionen auf dem Leuchtschirm analysieren konnte. Im folgenden soll der Aufbau der FeldemissionsIonenquelle, die vom Verfasser cntwickelt wurde, beschrieben werden (Abb.

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